焊縫的內(nèi)在質(zhì)量需要借助檢測(cè)儀器進(jìn)行檢查確定,目前常用的檢測(cè)方法叫做無損檢測(cè)(Non DestructiveTesting,縮寫是NDT)。常用的無損檢測(cè)方法:渦流檢測(cè)(ECT)、射線照相檢驗(yàn)(RT)、超聲檢測(cè)(UT)、磁粉檢測(cè)(MT)和液體滲透檢測(cè)(PT)五種。其他無損檢測(cè)方法:聲發(fā)射檢測(cè)(AE)、熱像/紅外(TIR)、泄漏試驗(yàn)(LT)、交流場(chǎng)測(cè)量技術(shù)(ACFMT)、漏磁檢驗(yàn)(MFL)、遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試檢測(cè)方法(RFT)、超聲波衍射時(shí)差法(TOFD)等。
無損檢測(cè)是利用物質(zhì)的聲、光、磁和電等特性,在不損害或不影響被檢測(cè)對(duì)象使用性能的前提下,檢測(cè)被檢對(duì)象中是否存在缺陷或不均勻性,給出缺陷大小,位置,性質(zhì)和數(shù)量等信息。與破壞性檢測(cè)相比,無損檢測(cè)有以下特點(diǎn):
1.具有非破壞性,因?yàn)樗谧鰴z測(cè)時(shí)不會(huì)損害被檢測(cè)對(duì)象的使用性能;
2.具有全面性,由于檢測(cè)是非破壞性,因此必要時(shí)可對(duì)被檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行100%的全面檢測(cè),這是破壞性檢測(cè)辦不到的;所以,它不僅可對(duì)制造用原材料,各中間工藝環(huán)節(jié)、直至最終產(chǎn)成品進(jìn)行全程檢測(cè),也可對(duì)服役中的設(shè)備進(jìn)行檢測(cè)。
射線照相法(RT)
是指用X射線或γ射線穿透試件,以膠片作為記錄信息的器材的無損檢測(cè)方法,該方法是最基本的,應(yīng)用最廣泛的一種非破壞性檢驗(yàn)方法。總的來說,RT的定性更準(zhǔn)確,有可供長(zhǎng)期保存的直觀圖像,總體成本相對(duì)較高,而且射線對(duì)人體有害,檢驗(yàn)速度會(huì)較慢。
超聲波檢測(cè)(UT)
原理:通過超聲波與試件相互作用,就反射、透射和散射的波進(jìn)行研究,對(duì)試件進(jìn)行宏觀缺陷檢測(cè)、幾何特性測(cè)量、組織結(jié)構(gòu)和力學(xué)性能變化的檢測(cè)和表征,并進(jìn)而對(duì)其特定應(yīng)用性進(jìn)行評(píng)價(jià)的技術(shù)。但其對(duì)具有復(fù)雜形狀或不規(guī)則外形的試件進(jìn)行超聲檢測(cè)有困難;并且缺陷的位置、取向和形狀以及材質(zhì)和晶粒度都對(duì)檢測(cè)結(jié)果有一定影響,檢測(cè)結(jié)果也無直接見證記錄。
磁粉檢測(cè)(MT)
原理:鐵磁性材料和工件被磁化后,由于不連續(xù)性的存在,使工件表面和近表面的磁力線發(fā)生局部畸變而產(chǎn)生漏磁場(chǎng),吸附施加在工件表面的磁粉,形成在合適光照下目視可見的磁痕,從而顯示出不連續(xù)性的位置、形狀和大小。
適用性和局限性:
磁粉探傷適用于檢測(cè)鐵磁性材料表面和近表面尺寸很小、間隙極窄(如可檢測(cè)出長(zhǎng)0.1mm、寬為微米級(jí)的裂紋)目視難以看出的不連續(xù)性;也可對(duì)原材料、半成品、成品工件和在役的零部件檢測(cè),還可對(duì)板材、型材、管材、棒材、焊接
件、鑄鋼件及鍛鋼件進(jìn)行檢測(cè),可發(fā)現(xiàn)裂紋、夾雜、發(fā)紋、白點(diǎn)、折疊、冷隔和疏松等缺陷。但磁粉檢測(cè)不能檢測(cè)奧氏體不銹鋼材料和用奧氏體不銹鋼焊條焊接的焊縫,也不能檢測(cè)銅、鋁、鎂、鈦等非磁性材料。對(duì)于表面淺的劃傷、埋藏較深的孔洞和與工件表面夾角小于20°的分層和折疊難以發(fā)現(xiàn)。
滲透檢測(cè)(PT)
原理:零件表面被施涂含有熒光染料或著色染料的滲透劑后,在毛細(xì)管作用下,經(jīng)過一段時(shí)間,滲透液可以滲透進(jìn)表面開口缺陷中;經(jīng)去除零件表面多余的滲透液后,再在零件表面施涂顯像劑,同樣,在毛細(xì)管的作用下,顯像劑將吸引缺陷中保留的滲透液,滲透液回滲到顯像劑中,在一定的光源下(紫外線光或白光),缺陷處的滲透液痕跡被現(xiàn)實(shí),(黃綠色熒光或鮮艷紅色),從而探測(cè)出缺陷的形貌及分布狀態(tài)。
優(yōu)點(diǎn)及局限性:
滲透檢測(cè)可檢測(cè)各種材料,金屬、非金屬材料;磁性、非磁性材料;焊接、鍛造、軋制等加工方式;具有較高的靈敏度(可發(fā)現(xiàn)0.1μm寬缺陷),同時(shí)顯示直觀、操作方便、檢測(cè)費(fèi)用低。


